|
Conference publicationsAbstractsXVI conferenceThe technique of the determination of the stressed-deformed state of the multilayer semiplane with the defect in layerUkraine, 69098, Zaporozhia, street Bocharova 8-141, Phone.:+3-8-800-(0612) 76-44-04, E-mail: zinoveyev@mail.ru Ukraine, 69055, Zaporozhia, street Gryaznova 88á-43, Phone:+3-8-800-(0612) 63-80-26, E-mail: Privarnikovak@mail.ru 1 pp. (accepted)Рассматривается слоистая полуплоскость (многослойное основание), под которой понимается пакет из сцепленных между собою изотропных плоскопараллельных слоев, сцепленный с полуплоскостью. Полуплоскость внутри одного из слоев имеет дефект в виде отверстия ограниченного гладким контуром или криволинейную трещину нормального раскрытия, не пересекающую границ слоя. На верхней границе полу-плоскости, в точках контура отверстия или на берегах трещины известны нормальные и касательные напряжения. Все слои основания сцеплены. На нижней границе основания выполняются условия сцепления с полуплоскостью (упругой, или абсолютно жесткой). Необходимо определить напряжения и перемещения в любой точке основания, если деформация основания плоская. Авторами для решения задачи об отверстии в слое многослойного основания предлагается способ приближенного решения, основанный на объединении метода фиктивных нагрузок и метода функций податливости для упругих многослойных оснований сложной структуры . В идейном плане задача об отверстии сводится к задаче о сплошном теле, в котором вдоль линии, имеющей форму контура отверстия, действует распределенная объемная нагрузка, которая подбирается так, чтобы удовле-творить граничным условиям задачи. Для решения задачи о криволинейной трещине нормального раскрытия в слое многослойного основания предлагается способ приближенного решения , основанный на методе разрывных смещений и методе функций податливости . |
